Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)
Nel SEM un fascio di elettroni colpisce il campione, da cui sono riemesse numerose particelle (elettroni secondari, retrodiffusi, raggi X, fotoni, ecc...) che forniscono diverse informazioni.
Utilizzando gli elettroni riemessi dal campione (secondari e retrodiffusi) è possibile ottenere immagini ad alto ingrandimento, tramite cui è possibile andare a studiare la morfologia del campione, la presenza di difetti, precipitati, ecc...
Inoltre si possono ottenere informazioni sulla composizione inviando i raggi X riemessi ad un rilevatore EDS, da cui si ottengono microanalisi qualitative e quantitative.
Sono analizzabili sia campioni metallici che polimerici, previa opportuna metallazione per rendere i campioni conduttori.
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Immagine SEM di un acciaio eutettoidico.
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