Diffrattometria a raggi X (XRD)
La diffrazione di raggi X è basata sullo scattering elastico dell'onda elettromagnetica da parte dei piani cristallini del campione.
Questa tecnica da informazioni sulle costanti reticolari, sugli elementi di simmetria, sulla densità elettronica, sulle fasi presenti.
È possibile identificare i singoli picchi presenti nello spettro, attribuendoli all'elemento o alla fase cristallina che li hanno generati.
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Spettro XRD su un acciaio eutettoidico.
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